FET　-　PLANET,INC

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( Japanese version only )

マイクロ波用のFETの特性試験をするのに最適。発熱の大きいFET素子をICパッケージに入れない状態での試験を可能にできる装置。測定ユニットにこの排熱装置を搭載して試験を実施。FETの発熱は、ヒートパイプ、ペルチェ、ファンから成る排熱試験装置によって、供試体から外気へ放熱。

アドバンス機能としてSINDA/FLUNITと組み合わせることで自動最適化計算が可能となります。モデルに予め組み入れた様々な変数をパラメータにし、ユーザ指定の設計値に従って最適解を導き、設計者が望む最適なパラメータの組み合わせを短時間で効率的に求めることができます。以下のように他のツールとの互換性も高いため既存のデータを無駄にすることはなく、またプロジェクト間の情報交換も容易に行えます。

①排熱計測台

②排熱計測台とヒートパイプ

③取付状態

④放熱部とヒートパイプ

⑤放熱部とフィン

⑥放熱部とヒートパイプ

機能	排熱計測台の排熱バキュームによる試料の吸着
排熱容量	４０W以下
電源	単相AC100V 50/60Hz
消費電力	10W以下
使用温度範囲	5℃～40℃（室温）
使用湿度範囲	20%～80%（結露しないこと）
本体部質量	1.5kg（黄銅）、1.6kg（テルル銅）
側台部質量	左右それぞれ約7kg
本体部寸法	131mm ×120mm ×20mm
側台部寸法	400mm ×243mm ×10mm